「基礎セミナー」の趣旨
企業の若手技術者、研究者、大学院生の皆様が、さまざまな研究を進めるにあたって、その基本となる有益な知識を得ることを目的として、測定・解析技術、材料素材・加工・薄膜化技術など諸技術の他、光、プラズマ、超伝導、エレクトロニクスなどの様々な分野に関して、基礎から最先端までを網羅して「基礎セミナー」を開催しています。「基礎セミナー」は単なる研究会と異なり、研究に推進するに必要な専門的な知識は勿論、基礎的な知識を修得できる機会でもありますので多数の皆様のご参加をお待ちします。
第37回（2026年）の基礎セミナーのご案内
テーマ：「電界効果トランジスタ(MOSFET)動作の基礎と新コンピューティング」
開催日時：2026年6月26日 (金) 13:00 - 16:05
場所：愛知工業大学 本山キャンパス 3階 304号
〒464-0807 名古屋市千種区東山通1-38-1
13:30 - 13:05 はじめに
13:05 - 13:45 MOSFETの動作原理と発展（帝京大学 高木信一 先生）
13:45 - 14:25 SiCパワーデバイスの動作と材料物性（三菱電機株式会社 野口宗隆 氏）
14:25 - 14:40 休憩
14:40 - 15:20 シリコン量子ビットの研究開発：大規模集積に向けた特性ばらつき評価とその抑制技術
15:20 - 16:00 物理リザバーコンピューティングの基礎と現状（東京大学 中根了昌 先生）
申込（最大60名）：Googleフォーム
申し込み期限：2026年6月18日（木）正午
問い合わせ先：田岡紀之（愛知工業大学） [email protected]
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本事業の実施にあたり、応用物理学会学術・教育奨励基金の補助を申請しています。
2002年（第1回）以降の「基礎セミナー」のタイトル
各回の資料は、パスワードで保護されていますので、個々に資料をご覧になりたい場合はフォームに記入して申請ください。折り返し、パスワードを記載した電子メールが届きます。その上で、次の【「基礎セミナー資料」の閲覧】からご覧ください。
これまでの「基礎セミナー資料」の閲覧はこちら
第１回（２００２年） 「薄膜の評価技術」
第２回（２００２年） 「２００２年国際固体素子・材料コンファレンスショートコース」
第３回（２００３年） 「薄膜の評価技術」
第４回（２００４年） 「バイオテクノロジー」
第５回（２００４年） 「薄膜の評価技術」
第６回（２００５年） 「光測定の基礎と応用」
第７回（２００５年） 「薄膜の評価技術」
第８回（２００６年） 「光測定の基礎から最先端技術まで」
第９回（２００６年） 「薄膜の評価技術」
第１０回（２００７年） 「人間の五感センサーに迫るー基礎と応用から最先端研究までー」
第１１回（２００７年） 「薄膜の評価技術」
第１２回（２００８年） 「エネルギーと環境技術」
第１３回（２００８年） 「薄膜の評価技術」
第１４回（２００９年） 「先端材料開発のための結晶成長の基礎と応用」
第１５回（２００９年） 「薄膜の評価技術」
第１６回（２０１０年） 「薄膜の評価技術」
第１７回（２０１０年） 「イメージング技術の最前線」
第１８回（２０１１年） 「薄膜の評価技術」
第１９回（２０１２年） 「透明導電膜ー基礎から応用ー」
第２０回（２０１３年） 「バイオメディカルフォトニクス」
第２１回（２０１３年） 「エネルギー・環境材料のための透過型電子顕微鏡・シンクロトロン光最新評価技術」
第２２回（２０１３年） 「大気圧プラズマー基礎から最新応用トピックまでー」
第２３回（２０１４年） 「薄膜の評価技術ー最先端評価技術の展開ー」
第２４回（２０１４年） 「バイオメディカルエンジニアリング」
第２５回（２０１４年） 「超精密加工技術と応用」
第２６回（２０１５年） 「ナノスピン構造の作製・評価技術」
第２７回（２０１６年） 「表面分析(I)～回折・分光法」
第２８回（２０１７年） 「表面分析(II)～顕微鏡」
第２９回（２０１８年） 「表面分析法」
第３０回（２０１９年） 「結晶成長：原理と成長法、及び、歪・欠陥の評価技術の最前線」
第３１回（２０２０年） 「AIを用いた画像処理・認識技術の進展」
第３２回（２０２１年） 「バイオセンシング技術の進展」
第３３回（２０２２年） 「電子線を用いた分析法」
第３４回（２０２３年） 「成膜・コーティングの基礎」
第３５回（２０２４年） 「炭素複合材料におけるプラズマの効果」
第３６回（２０２５年） 「細胞・生体への物理刺激とセンシング：基礎と応用」